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Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen - Einzelansicht

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Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Langtext
Veranstaltungsnummer 153836 Kurztext
Semester WS 2019 SWS 2
Teilnehmer 1. Platzvergabe 24 Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe 0
Rhythmus Jedes 2. Semester Studienjahr
Credits für IB und SPZ
E-Learning-Plattform
Hyperlink
Sprache Deutsch
Belegungsfrist Zur Zeit keine Belegung möglich
Abmeldefristen
Nach Zulassung ist eine Abmeldung nur durch den Dozenten möglich.

Nach Zulassung ist eine Abmeldung auch durch den Teilnehmer möglich.

Nach Zulassung ist eine Abmeldung nur durch den Dozenten möglich.
Termine Gruppe: 0-Gruppe iCalendar Export für Outlook
  Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Lehrperson (Zuständigkeit) Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe
Einzeltermine anzeigen Fr. 10:00 bis 12:00 w. 18.10.2019 bis
07.02.2020
Löbdergraben 32 - HS E032 (ehem. HS 124)      
Gruppe 0-Gruppe:



Zugeordnete Personen
Zugeordnete Personen Zuständigkeit
Lippmann, Stephanie , Dr.-Ing. verantwortlich
Undisz, Andreas, Privatdozent, Dr.-Ing. habil. verantwortlich
Rettenmayr, Markus, Universitätsprofessor, Dr.rer.nat.habil. Dr.h.c. verantwortlich
Seyring, Martin , Dr.-Ing. verantwortlich
Zuordnung zu Einrichtungen
Physikalisch-Astronomische Fakultät
Inhalt
Literatur

Williams, D. B., Carter, C. B. „ Transmission Electron Microscopy” Springer 2009

Hornbogen, E., Skrotzki, B. „Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe” Springer 2009

Leistungsnachweis

Lösung einer materialwissenschaftlichen Fragenstellung mithilfe elektronenmikroskopischer Werkzeuge (100%), insgesamt 5LP

Zu bearbeitenden Fragestellungen werden zu Beginn der Lehrveranstaltung bekanntgegeben

Lerninhalte

Prinzip und Wirkungsweise REM, TEM, STEM Detektoren, Bildgebung, Elektronenbeugung Konzentrationsanalyse (EDS, WDS, EELS) Probenpräparation (mechanisch, physikalisch, chemisch) Konkrete Beispiele zur Lösung materialwissenschaftlicher Fragestellungen

• Festkörperreaktion (Ausscheidungsbildung, Diffusion, polymorphe Phasenumwandlung)

• mechanische Eigenschaften (in-situ Experimente zu Oberflächendefekten)

• fest/flüssig Phasenumwandlung (Umschmelzprozesse, Konzentrationsgradienten)

• Nanomaterialien (Kohlenstoffnanoröhren, nanokristalline Materialien, Nanodrähte)

• Grenzflächencharakterisierung (Oberflächenschichten, Korn- und Phasengrenzen)

Strukturbaum
Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester WS 2019 , Aktuelles Semester: WiSe 2020/21

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