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Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen - Einzelansicht

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Grunddaten
Veranstaltungsart Vorlesung Langtext
Veranstaltungsnummer 153836 Kurztext
Semester WS 2019 SWS 2
Teilnehmer 1. Platzvergabe 24 Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe 0
Rhythmus Jedes 2. Semester Studienjahr
Credits für IB und SPZ
E-Learning-Plattform
Hyperlink
Sprache Deutsch
Belegungsfrist Standardbelegung Wintersemestersemester 2019/20 ab dem 19.08.2019
Abmeldefristen A1 - Belegung ohne Abmeldung    19.08.2019 09:00:00 - 07.10.2019 07:59:59   
Nach Zulassung ist eine Abmeldung nur durch den Dozenten möglich.
A2 - Belegung mit Abmeldung 2 Wochen    07.10.2019 08:00:00 - 28.10.2019 23:59:59   
Nach Zulassung ist eine Abmeldung auch durch den Teilnehmer möglich.
A3 - Belegung ohne Abmeldung    29.10.2019 00:00:01 - 17.02.2020 07:59:59    aktuell
Nach Zulassung ist eine Abmeldung nur durch den Dozenten möglich.
Termine Gruppe: 0-Gruppe iCalendar Export für Outlook
  Tag Zeit Rhythmus Dauer Raum Lehrperson (Zuständigkeit) Status Bemerkung fällt aus am Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe
Einzeltermine anzeigen Fr. 10:00 bis 12:00 w. 18.10.2019 bis
07.02.2020
Löbdergraben 32 - HS E032 (ehem. HS 124)      
Gruppe 0-Gruppe:



Zugeordnete Personen
Zugeordnete Personen Zuständigkeit
Lippmann, Stephanie , Dr.-Ing. verantwortlich
Undisz, Andreas , PD Dr.-Ing. habil. verantwortlich
Rettenmayr, Markus, Universitätsprofessor, Dr.rer.nat.habil. Dr.h.c. verantwortlich
Seyring, Martin , Dr.-Ing. verantwortlich
Module / Prüfungen
Modul Prüfungsnummer Titel VE.Nr. Veranstaltungseinheit
PAFWW006 Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen
P-Nr. : 101061 Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen: Lösung einer materialwiss. Fragenstellung
101063 Elektronenmikroskopie - Grundlagen und Anwendungen: Vorlesung
Zuordnung zu Einrichtungen
Physikalisch-Astronomische Fakultät
Inhalt
Literatur

Williams, D. B., Carter, C. B. „ Transmission Electron Microscopy” Springer 2009

Hornbogen, E., Skrotzki, B. „Mikro- und Nanoskopie der Werkstoffe” Springer 2009

Leistungsnachweis

Lösung einer materialwissenschaftlichen Fragenstellung mithilfe elektronenmikroskopischer Werkzeuge (100%), insgesamt 5LP

Zu bearbeitenden Fragestellungen werden zu Beginn der Lehrveranstaltung bekanntgegeben

Lerninhalte

Prinzip und Wirkungsweise REM, TEM, STEM Detektoren, Bildgebung, Elektronenbeugung Konzentrationsanalyse (EDS, WDS, EELS) Probenpräparation (mechanisch, physikalisch, chemisch) Konkrete Beispiele zur Lösung materialwissenschaftlicher Fragestellungen

• Festkörperreaktion (Ausscheidungsbildung, Diffusion, polymorphe Phasenumwandlung)

• mechanische Eigenschaften (in-situ Experimente zu Oberflächendefekten)

• fest/flüssig Phasenumwandlung (Umschmelzprozesse, Konzentrationsgradienten)

• Nanomaterialien (Kohlenstoffnanoröhren, nanokristalline Materialien, Nanodrähte)

• Grenzflächencharakterisierung (Oberflächenschichten, Korn- und Phasengrenzen)

Strukturbaum
Die Veranstaltung wurde 3 mal im Vorlesungsverzeichnis WiSe 2019/20 gefunden:

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