Nanoscale imaging with XUV and X-ray light - Einzelansicht

Grunddaten
Veranstaltungsart	Vorlesung	Langtext
Veranstaltungsnummer	206738	Kurztext
Semester	WS 2022	SWS	2
Teilnehmer 1. Platzvergabe	20	Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe	24
Rhythmus	Jedes 2. Semester	Studienjahr
Credits für IB und SPZ
E-Learning
Hyperlink
Sprache	Englisch
Belegungsfrist	Zur Zeit keine Belegung möglich
Abmeldefristen

Termine Gruppe: 0-Gruppe
	Tag	Zeit	Rhythmus	Dauer	Raum	Lehrperson (Zuständigkeit)	Status	Bemerkung	fällt aus am	Max. Teilnehmer 2. Platzvergabe
	Di.	10:00 bis 12:00	w.	18.10.2022 bis 07.02.2023	Albert-Einstein-Str. 6 - SR 2-ACP		findet statt

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Zugeordnete Personen
Zugeordnete Personen	Zuständigkeit
Rothhardt, Jan , Dr.	verantwortlich
Limpert, Jens, Universitätsprofessor, Dr.	verantwortlich

Zuordnung zu Einrichtungen
Physikalisch-Astronomische Fakultät

Inhalt

Literatur

• Handbook of Microscopy, Hawkes and Spence (Eds.), Springer (2019)

• X-ray microscopy, C. Jacobsen, Cambridge University Press, https://doi.org/10.1017/9781139924542

Lerninhalte

The course will cover the following topics:

• Review of fundamental interaction of XUV and X-ray photons with matter

• Overview on sources, optics and detectors

• Lens-based XUV / X-ray microscopy

• Lensless (computational) XUV / X-ray imaging techniques and implementations

• Radiation damage

• X-ray fluorescence and Photoemission electron microscopy

Strukturbaum

Keine Einordnung ins Vorlesungsverzeichnis vorhanden. Veranstaltung ist aus dem Semester WS 2022 , Aktuelles Semester: SoSe 2024